Phenom XL G3 大仓室台式扫描电镜

设备信息

技术规格

电子光学系统

样品系统

真空与探测

功能特性

1. 大仓室样品台，**兼容 100 × 100 mm 样品，可同步装载 36 个样品

2. 单次成像耗时约 40 秒，满足多样品筛查及日常分析需求

3. 电子光学放大倍率 200,000 X，分辨能力优于 8 nm

4. CeB₆ 灯丝，持续运行寿命优于 3000 小时

5. 三档真空环境，适配导电及非导电类高分子材质

6. 标准配置背散射探测器，可扩展二次电子探测器及能谱探测器

7. 台式结构，无需专用场地，实验室常规工位即可部署

8. 提供选型咨询及试样预约服务

适用材质

• 塑料及塑料制品

• 橡胶及弹性体

• 薄膜及涂层材质

• 其他高分子材质

典型用途

• 塑料断面组织形貌观测

• 橡胶填料分散状态表征

• 薄膜表面瑕疵识别

• 高分子材料研发检测

• 来料及成品质量管控

常见疑问

Q1：该设备适用于哪些样品类型？A：适用于较大规格样品、多样品批量筛查及常规材质形貌观测。

Q2：能否进行成分分析？A：可按需扩展能谱探测器，用于颗粒、异物或局部微区的成分判定。

Q3：设备价格如何确定？A：报价取决于主机配置、探测单元选型、应用需求及服务方案。可通过平台询价通道提交需求，获取官方选型建议并预约试样。

咨询通道

如需了解 Phenom XL G3 在高分子材料形貌表征中的详细配置、应用资料或报价信息，可通过粉体网平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议并预约试样。