Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于塑料材料断面观察，帮助分析断面结构、缺陷和填料分布情况。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器，并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。

电子光学系统

样品系统

产品特性

1. 仓室容量：100 mm × 100 mm 样品台，36 位并行装载，满足大尺寸及批量检测需求

2. 成像效率：单次采集周期约 40 秒，适配日常检测节奏

3. 空间分辨：200,000 X 电子光学放大，＜8 nm 分辨能力，CeB₆ 源稳定运行超 3000 小时

4. 电压覆盖：五档固定输出（基础模式）+ 无级连续调节（4.8–20.5 kV，高级模式），覆盖多类样品荷电控制需求

5. 真空适配：三档真空环境切换，兼容导电、半导电及非导电材质

6. 探测配置：背散射探测器为出厂标配；二次电子探测器、能谱探测器按需增配

7. 部署形式：台式结构，实验室常规工位即可安装

8. 服务支持：提供选型咨询及试样预约通道

9. 
   

适用材质

• 塑料及塑料制品

• 橡胶及弹性体

• 薄膜及涂层材质

• 其他高分子材质

典型用途

• 塑料断面组织形貌观测

• 橡胶填料分散状态表征

• 薄膜表面瑕疵识别

• 高分子材料研发检测

• 来料及成品质量管控

常见问题：

1. 这款设备适合哪些样品？适合较大尺寸样品、多样品检测以及常规材料形貌观察。

2. 是否可以做元素分析？设备可根据需求选配能谱探测器，用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少？价格根据设备配置、探测器选项、应用需求和服务方案确定，可通过平台询价入口获取官方选型建议，并预约试样。

如需了解 Phenom XL G3 在塑料材料断面观察中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样。