Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，可用于橡胶材料填料分布观察，帮助分析填料、断面和局部缺陷形貌。

Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒，可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析，适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。

该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器，并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定，可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议，并预约试样。

核心指标

技术亮点

仓室容量100 mm × 100 mm 载物平台，36 工位同步装载，满足橡胶制品等大尺寸及批量筛查需求。

成像效率单次采集周期约 40 秒，适配日常检测节奏。

空间分辨200,000 X 电子光学放大，＜8 nm 极限分辨，CeB₆ 源稳定运行超 3000 小时。

电压灵活度五档固定输出 + 4.8 kV–20.5 kV 无级调节，覆盖橡胶等绝缘材质荷电控制需求。

真空适配三档真空环境切换，低真空缓解非导电弹性体荷电效应，高真空满足高分辨需求。

探测组合背散射探测器提供成分衬度，二次电子探测器呈现表面形貌；增配能谱探测器后实现微区元素定性。

部署便捷性台式机身，无需专用防震地基，常规实验室环境即可运行。

表征对象

• 天然橡胶 / 合成橡胶

• 硅橡胶 / 氟橡胶

• 热塑性弹性体

• 橡胶-金属复合件

• 轮胎、密封件、减震器等橡胶制品

分析内容

增强相（炭黑、白炭黑、纤维等）分散均匀性 / 断裂面形貌溯源 / 内部气孔、夹杂等瑕疵识别 / 硫化界面结合状态 / 老化后表面劣化形貌

用户问答

可检对象？较大规格块状样品、多批次并行筛查及常规弹性体材质微观形貌检视。

成分判定能力？增配能谱探测器后，可对填料颗粒、外来夹杂或特定微区的元素组成进行定性分析。

报价方式？依主机配置、探头选型、应用场景及售后服务方案综合评估。通过平台留言通道提交需求，获取定制化选型方案并安排试样。