设备画像

科研实验室高分辨SEM观察用Phenom Pharos G2 是飞纳推出的台式场发射扫描电镜，可用于科研实验室高分辨SEM观察，适合多类材料的微纳形貌表征。

采用肖特基热场发射电子枪，电子光学放大倍数可达 2,000,000 X，分辨率优于 1.5 nm，适合对高分辨形貌、精细结构和微纳尺度特征有要求的研发与检测场景。具备台式化设计、低/中/高三种真空模式、背散射探测器、二次电子探测器，并可根据需求选配能谱探测器。

核心指标

技术特性

1. 肖特基热场发射电子枪，适合高分辨SEM成像。

2. 电子光学放大倍数可达 2,000,000 X。

3. 分辨率优于 1.5 nm，适合微纳结构观察。

4. 加速电压 1 kV - 20 kV 连续可调。

5. 支持低/中/高三种真空模式。

6. 标配背散射探测器和二次电子探测器，可选配能谱探测器。

7. 台式设计，适合科研、研发和检测实验室部署。

表征对象

纳米材质 / 半导体 / 碳基材料 / 催化材料 / 陶瓷 / 锂电材料 / 光伏材料 / 其他多类型样品

分析内容

微纳形貌表征 / 精细结构解析 / 表面形貌溯源 / 微区元素定性（需增配能谱探测器）

常见问题：

1. 这款设备适合哪些应用？适合纳米材料、半导体、碳材料、催化剂、陶瓷、锂电材料、光伏材料等高分辨形貌观察场景。

2. 是否可以做元素分析？设备可根据需求选配能谱探测器，用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。

3. 价格是多少？价格根据配置、探测器选项和应用需求确定，可通过平台询价入口获取官方选型建议，并预约试样。

如需了解科研实验室高分辨SEM观察用 Phenom Pharos G2 在高分辨SEM中的配置方案、应用资料或报价信息，可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求，获取官方选型建议，并预约试样。

获取方案

提交样品类型与表征需求至粉体网平台询价入口，获取 科研实验室高分辨SEM观察用Phenom Pharos G2 在微纳尺度形貌分析方向的官方配置建议与试样安排。