产品简介

第三方检测用扫描电镜能谱分析设备 Phenom ProX G7 是飞纳推出的台式扫描电镜-能谱一体化设备，将扫描电镜成像与能谱元素分析能力集成于一台桌面级设备中。电子光学放大倍数可达 350,000 X，分辨率优于 6 nm，采用 CeB6 灯丝（使用寿命 >3,000 小时），适用于颗粒形貌观察、异物分析、缺陷区域定位及材料微区成分分析，满足高校实验室、企业研发中心、第三方检测机构及工业质检等多种场景需求。

性能特点

• 电镜+能谱一体化：扫描电镜成像与能谱分析集成于同一台设备，无需切换即可完成形貌观察与元素分析

• 高分辨率成像：分辨率优于 6 nm，电子光学放大倍数**可达 350,000 X，满足常规材料微观形貌观察需求

• CeB6 灯丝：使用寿命优于 3,000 小时，维护成本低，长期运行稳定

• 双真空模式：支持高真空与低真空模式切换，适配不同样品类型，导电样品与非导电样品均可直接检测

• 多探测器配置：标配背散射探测器（BSD）与能谱探测器（EDS），可选配二次电子探测器（SED）

• 光学导航相机：彩色光学导航，便于快速定位目标区域

• 桌面级设计：体积紧凑，无需专用样品制备室，操作简便

技术参数

应用领域

• 第三方检测：来料检验、样品送检中的形貌与成分分析

• 颗粒与异物分析：颗粒形貌表征、异物溯源与缺陷区域定位

• 材料研发：新材料微观结构观察与微区元素成分分析

• 失效分析：产品失效原因追溯，定位断裂、腐蚀、污染等缺陷区域

• 质量控制：生产线样品抽检，批次一致性验证

常见问题

Q1：该设备适合做哪些分析？

A：适用于材料微观形貌观察、微区元素分析、颗粒/异物分析、失效分析及研发质检等场景。

Q2：能否进行元素分析？

A：可以。该设备为电镜能谱一体机，标配能谱探测器，可对颗粒、异物或指定局部区域进行元素成分分析。

Q3：如何获取报价？

A：产品价格根据具体配置、探测器选型及应用需求确定，欢迎通过平台询价入口提交需求，获取官方选型建议，并可预约试样体验。