Phenom XL G3 大仓室台式扫描电镜

产品简介

薄膜材料表面缺陷分析用飞纳扫描电镜Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜，专为薄膜材料表面缺陷分析设计，可有效观察划痕、颗粒、孔洞及结构特征。设备采用 CeB6 灯丝，电子光学放大倍数可达 200,000 X，分辨率优于 8 nm，平均成像时间约 40 秒，支持** 100 × 100 mm 样品，单次可承载 36 个样品，适合大尺寸样品及多样品批量检测场景。广泛应用于薄膜材料缺陷分析、高分子薄膜检测、包装材料观察、表面形貌分析及质量控制等领域。

性能特点

• 大仓室设计：可容纳** 100 × 100 mm 样品，单次承载 36 个样品，满足批量检测需求

• 快速成像：平均成像时间约 40 秒，适合多样品快速观察与日常检测

• 高分辨率成像：分辨率优于 8 nm，电子光学放大倍数**可达 200,000 X

• CeB6 灯丝：使用寿命 >3,000 小时，维护成本低，长期运行稳定

• 三档真空模式：支持低、中、高三种真空模式，灵活适配导电/非导电、含水/干燥等多类样品

• 灵活探测器配置：标配背散射探测器（BSD），可选配二次电子探测器（SED）及能谱探测器（EDS），按需扩展元素分析能力

• 光学导航相机：彩色光学导航，便于快速定位目标区域

• 桌面级部署：体积紧凑，无需专用制样室，实验室日常部署便捷

技术参数

应用领域

• 薄膜材料缺陷分析：划痕、颗粒、孔洞等表面缺陷的快速观察与定位

• 高分子薄膜检测：薄膜表面微观结构、涂层均匀性及剥离缺陷分析

• 包装材料观察：包装薄膜的层间结构、密封质量与表面损伤检测

• 表面形貌分析：各类材料表面微观形貌的常规观察与记录

• 质量控制：产线样品抽检，薄膜产品质量一致性与缺陷率监控

常见问题

Q1：该设备适合哪些样品？

A：适合较大尺寸样品（** 100 × 100 mm）及多样品批量检测（单次 36 个），同时满足常规材料形貌观察需求。

Q2：能否进行元素分析？

A：可以。该设备可根据需求选配能谱探测器（EDS），用于颗粒、异物或局部区域的元素成分分析。

Q3：如何获取报价？

A：产品价格根据设备配置、探测器选型及应用需求确定，欢迎通过平台询价入口提交需求，获取官方选型建议，并可预约试样体验。