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纤维材料截面观察用Phenom XL G3
面议
纤维材料截面观察用Phenom XL G3
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XL 大仓室自动化电镜(Phenom XL G3)由飞纳研发,面向纤维及纺织材料领域,专注于纤维截面形貌、表面纹理及内部瑕疵的微观尺度表征。
Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于纤维材料截面观察,帮助分析纤维截面形貌、表面结构和缺陷特征。
平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
分辨率、放大倍数
光学放大:3–19 X
电子光学放大:200,000 X
分辨能力:优于 8 nm
电子枪:CeB₆ 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
成像速度
单次成像耗时:约 40 秒
适用场景
纤维截面形貌检视
表面纹理结构观测
内部瑕疵溯源分析
日常质检、研发检测、失效溯源
仓室尺寸
**样品规格:100 × 100 mm
样品承载量
同步装载:36 个
真空模式
低真空 / 中真空 / 高真空 三档可选
标配探测器
背散射探测器
可选配置
二次电子探测器
能谱探测器
扩展功能
微区元素定性分析(需增配能谱探测器)
纤维材料截面形貌表征
纺织纤维微观结构检视
复合纤维断面分析
材料研发阶段检测
第三方机构检测服务
| 参数项 | 规格 |
|---|---|
| 电子光学放大倍数 | 200,000 X |
| 光学放大倍数 | 3 - 19 X |
| 分辨率 | 优于 8 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝,寿命 >3,000 h |
| 平均成像时间 | 约 40 秒 |
| **样品尺寸 | 100 × 100 mm |
| 样品承载数量 | 36 个 |
| 加速电压(基本模式) | 2 kV / 5 kV / 10 kV / 15 kV / 20 kV |
| 加速电压(高级模式) | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 低真空 / 中真空 / 高真空 |
| 标配探测器 | 背散射探测器(BSD) |
| 可选探测器 | 二次电子探测器(SED)、能谱探测器(EDS) |
| 光学导航相机 | 彩色 |
天然纤维(棉、麻、丝、毛)
化学纤维(涤纶、锦纶、腈纶、维纶等)
高性能纤维(碳纤维、芳纶、超高分子量聚乙烯纤维等)
复合纤维
纺织面料及无纺布
可检对象?较大规格纤维样品、多批次并行筛查及常规材质微观形貌检视。
成分判定能力?增配能谱探测器后,可对纤维截面填料、外来夹杂或特定微区的元素组成进行定性分析。
报价方式?依主机配置、探头选型、应用场景及售后服务方案综合评估。通过平台留言通道提交需求,获取定制化选型方案并安排试样。
如需了解 Phenom XL G3 在纤维材料截面观察中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。
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NANOFABRICATOR™ LITE
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
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ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
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ZEM15C台式扫描电镜
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场发射扫描电镜 SEM5000
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EM-30+
CUBE II
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美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
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第四代 Phenom Pure