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纺织纤维形貌分析用Phenom XL G3
面议
飞纳
纺织纤维形貌分析用Phenom XL G3
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纺织纤维形貌分析用飞纳扫描电镜 Phenom XL G3
Phenom XL G3 是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,可用于纺织纤维形貌分析,帮助观察纤维表面、截面和损伤特征。
Phenom XL G3 平均成像时间约 40 秒,可对** 100 x 100 mm 的样品进行分析,适合较大尺寸样品或多样品检测场景。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,适用于日常质检、研发分析、失效分析和样品测试等应用。
该产品具备大仓室样品台、低/中/高三种真空模式、背散射探测器,并可根据需求选配二次电子探测器和能谱探测器。具体配置和价格根据型号、功能及应用需求确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
天然纤维(棉、麻、丝、毛)
化学纤维(涤纶、锦纶、腈纶、维纶等)
高性能纤维(碳纤维、芳纶、超高分子量聚乙烯纤维等)
复合纤维
纺织面料及无纺布
应用领域:
可用于纺织纤维形貌分析、纤维材料检测、纺织品研发、质量控制和第三方检测。
技术参数:
产品型号:Phenom XL G3
产品全称:XL 大仓室自动化电镜
产品类型:大仓室台式扫描电镜
光学放大:3 - 19 X
电子光学放大:200,000 X
分辨率:优于 8 nm
电子枪:CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时
光学导航相机:彩色
平均成像时间:约 40 秒
**样品尺寸:100 x 100 mm
样品承载:可同时容纳 36 个样品
加速电压:基本模式 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
高级模式:4.8 kV - 20.5 kV 连续可调
真空模式:低 / 中 / 高三种模式
探测器:背散射探测器
可选探测器:二次电子探测器、能谱探测器
关键词:
纺织纤维形貌分析,纤维SEM观察,飞纳扫描电镜,飞纳电镜,台式扫描电镜,Phenom XL G3,大仓室扫描电镜
产品分类:
电子显微镜 / 扫描电镜 / 台式扫描电镜 / 实验室分析仪器
可检对象?较大规格纤维样品、多批次并行筛查及常规材质微观形貌检视。
成分判定能力?增配能谱探测器后,可对纤维截面填料、外来夹杂或特定微区的元素组成进行定性分析。
产品价格根据设备配置、探测器选型及应用需求确定,欢迎通过平台询价入口提交需求,获取官方选型建议,并可预约试样体验。
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