粉体行业在线展览
锂电极片颗粒污染物分析用ParticleX Battery
面议
飞纳
锂电极片颗粒污染物分析用ParticleX Battery
198
ParticleX Battery 是飞纳推出的自动化分析系统,可用于锂电极片颗粒污染物分析,帮助识别颗粒异物并进行分类统计。
ParticleX Battery 基于扫描电镜与能谱分析方法,可自动识别、分析和统计铜、锌、铁等金属异物,适合锂电池原材料、正负极材料及生产质控环节的清洁度管控。
该系统具备自动杂质颗粒识别、自动高清图像采集、自动能谱成分分析和自动杂质颗粒分类等功能。具体配置和价格根据检测流程、样品类型及分析目标确定,可通过平台询价/留言入口获取官方选型建议,并预约试样。
| 参数 | 指标 |
|---|
| 电子枪 | CeB₆ 灯丝(寿命>3000 h) |
| 光学放大倍率 | 3–16 X |
| 电子光学放大倍率 | 200,000 X |
| 分辨能力 | 优于 8 nm |
| 加速电压(基础档) | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 加速电压(连续档) | 4.8 kV–20.5 kV 连续可调 |
探测器:背散射探测器、能谱探测器
可选探测器:二次电子探测器
全自动功能:全自动锂电清洁度分析
常见问题:
1. 主要用于什么场景?主要用于锂电池清洁度分析、金属异物检测、颗粒分类统计和新能源电池质控。
2. 可以分析哪些金属异物?可用于铜、锌、铁等金属异物的自动识别、分析和统计。
3. 价格是多少?价格根据配置、检测流程、样品类型和应用需求确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。
如需了解 ParticleX Battery 在锂电极片颗粒中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。
Pharos-STEM
NANOFABRICATOR™ LITE
Phenom Pharos
Neoscan N90
Phenom XL
Phenom Pro
ParticleMetric
ParticleX
VSP-G1
N80
N70
N60
ZEM15C台式扫描电镜
Phenom XL
Prisma E SEM
Apreo SEM
场发射扫描电镜 SEM5000
Hitachi FlexSEM 1000
EM-30+
KYKY-EM8000
CUBE II
美国Fauske 快速扫描绝热量热仪-ARSST
材料研究的 Axio Imager 2
第四代 Phenom Pure