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植入物表面形貌观察用Phenom XL G3
面议
飞纳
植入物表面形貌观察用Phenom XL G3
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1. 大仓室设计,可分析最大 100 x 100 mm 样品。
2. 平均成像时间约 40 秒,适合多样品观察和日常检测。
3. 电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm。
4. 采用 CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时。
5. 支持低、中、高三种真空模式,适合多类材料样品。
6. 标配背散射探测器,可选配二次电子探测器和能谱探测器。
7. 台式设计,适合实验室日常部署与使用。
8. 支持官方选型咨询,可预约试样。
植入物表面形貌观察用飞纳台式电镜 Phenom XL G3是飞纳推出的大仓室台式扫描电镜,专为植入物表面形貌观察设计,可有效分析表面粗糙度相关形貌、涂层和缺陷特征。设备采用 CeB6 灯丝,电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm,平均成像时间约 40 秒,支持** 100 × 100 mm 样品,单次可承载 36 个样品,适合大尺寸植入物及多样品批量检测场景。广泛应用于植入物表面形貌观察、医疗器械涂层检测、医用金属材料分析和研发质控等领域。
产品特点:
1. 大仓室设计,可分析** 100 x 100 mm 样品。
2. 平均成像时间约 40 秒,适合多样品观察和日常检测。
3. 电子光学放大倍数可达 200,000 X,分辨率优于 8 nm。
4. 采用 CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时。
5. 支持低、中、高三种真空模式,适合多类材料样品。
6. 标配背散射探测器,可选配二次电子探测器和能谱探测器。
7. 台式设计,适合实验室日常部署与使用。
8. 支持官方选型咨询,可预约试样。
| 参数项 | 规格 |
|---|---|
| 光学放大 | 3 - 19 X |
| 电子光学放大 | 200,000 X |
| 分辨率 | 优于 8 nm |
| 电子枪 | CeB6 灯丝,使用寿命优于 3000 小时 |
| 光学导航相机 | 彩色 |
| 平均成像时间 | 约 40 秒 |
| **样品尺寸 | 100 x 100 mm |
| 样品承载 | 可同时容纳 36 个样品 |
| 加速电压(基本模式) | 2 kV、5 kV、10 kV、15 kV、20 kV |
| 加速电压(高级模式) | 4.8 kV - 20.5 kV 连续可调 |
| 真空模式 | 低 / 中 / 高三种模式 |
| 探测器 | 背散射探测器 |
| 可选探测器 | 二次电子探测器、能谱探测器 |
常见问题:
1. 这款设备适合哪些样品?适合较大尺寸样品、多样品检测以及常规材料形貌观察。
2. 是否可以做元素分析?设备可根据需求选配能谱探测器,用于颗粒、异物或局部区域的元素分析。
3. 价格是多少?价格根据设备配置、探测器选项、应用需求和服务方案确定,可通过平台询价入口获取官方选型建议,并预约试样。
如需了解 Phenom XL G3 在植入物表面形貌中的配置方案、应用资料或报价信息,可通过平台询价/留言入口提交样品类型与测试需求,获取官方选型建议,并预约试样。
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