钕铁硼颗粒带有较强的磁性，极易团聚，因此不能用湿法测试。而干法是通过高速气流瞬间分散，可以克服磁性引起的团聚，因此干法激光粒度仪成为测量钕铁硼的粒度分布的典型方法。但是由于钕铁硼粉在空气中具有自燃性，就是暴露在空气中的钕铁硼粉在环境温度稍高时就会自燃，因此常常会烧毁吸尘器管路和滤网，使粒度测试无法正常进行，并且容易带来危险。采取的预防措施一是不用压缩空气作为气源，而用氮气等惰性气体作气源；二是要

影响激光粒度仪分辨力的因素很多：（1）光电探测器数量，数量越多分辨力越高。（2）反演算法的优劣，好的反演算法分辨力高。（3）分布模型，多峰模型分辨力高，单峰模型分辨力低。（4）富氏镜头，相差小的富氏镜头分辨力高，相差大的富氏镜头分辨力低。

分辨力的定义是能被激光粒度仪有效辨别的两个样品的最小差值。分辨力是和重复性、准确性同等重要的指标，是衡量一台激光粒度仪性能高低的主要指标。由于目前没有评价激光粒度仪分辨力的标准样品，因此要定量评价激光粒度仪分辨力有困难。但用户可以通过简单的方法定性评价你所用的激光粒度仪的分辨力。用两种标称值差大于5的标准样品，按 1:1 比例混合后进行测试，如果是双峰分布，则分辨力较高，仪器合格；不但是双峰样品

在测试过程中通常用遮光率这个相对值来表征悬浮液的浓度的， 遮光率的大小是由悬浮液中的颗粒个数决定的——悬浮液中颗粒数越多，散射光越强，遮光率越高；悬浮液中的颗粒数越少，散射光越弱，遮光率越低。为了达到一定的遮光率，对粒度越粗的样品所需的颗粒数量就多；对粒度越细的样品，只要很少一点样品颗粒数就很多，因此所需的试样量就很少。可见样品越粗悬浮液的百分比浓度就越大；样品越细悬浮液的百分不浓度就越小。此外，

超细化、纳米化是现代粉体材料研究和生产的趋势，为满足对这些材料的精确粒度分析，激光粒度仪的测量范围也向超细化、纳米化方向发展，所以现代高性能的激光粒度仪的测量下限已经达到 20nm 甚至 10nm，而样品折射率（包括吸收率）是 Mie 散射精确求解的一个重要条件，如果折射率错误，将导致粒度测试结果错误。随着新材料、合成材料以及混合材料越来越多，用常规手段测试这些材料的折射率很困难，这是粒度测试遇

光在真空中的速度与光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。样品的折射率越高，表明入射光发生折射的能力就越强。吸收率是指光照射到颗粒上热辐射能被吸收的量与投射到颗粒上的总热辐射能量之比。在激光粒度分析软件系统中，折射率是用复数表达表示，它的实部是实际折射率，虚部就是吸收率。现代激光粒度仪的软件系统中和粉体手册中，都能查到常见样品的折射率和吸收率。对特殊的样品还可以通过其他资料查找折射率和吸收率，也可

一般由两种方法，一是采取多次取样法，即用小勺少量多次加样，每加一次样观察一下遮光率的变化，当达到预设值时就停止加样进入分散和测试阶段。二是采用定量取样法，即对同一规格的粉体样品，先实验确定在最佳遮光率时所需要的样品量，以后每次测试时都用天平称量相同量的样品并全部加入到仪器中测试，就可以一次达到最佳范围遮光率要求了。

遮光率是指被颗粒散射和吸收掉的光占光总量的百分比，是激光粒度测试中用来表示悬浮液光学浓度的一个量。遮光率的计算方法是原始光强 I0 与加入样品后探测器中心点的光强 Ii 的差除以 I0 再乘以 100% 得到，即遮光率 =（I0-Ii）/I0×100%。一般遮光率的范围在 10±5 之间。在实际粒度测试时，最佳遮光率是复散射和代表性之间的平衡点，即把复散射减到最小，又能保证样品的代表性。为了这个

粒度分布测量中所显示的“浓度”一般是所接收的光信号的大小，是与颗粒数目有关的量，一般称光学浓度而不是百分比浓度。对激光法来说，悬浮液中颗粒数越多，光学浓度越大（但如果颗粒太多，光被超量遮挡，光学浓度反而减小）；对沉降法来说，悬浮液中颗粒数 越多，光学浓度越小。

激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为 n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒，在波长为 λ 的激光照射下，散射光强度随散射角 θ 变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论，大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱；小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度

一、铅中毒症状　　铅锌矿和冶炼厂，会导致铅中毒：脑力体力不支、关节疼痛、性欲减弱、不育等，应预防铅中毒。职业性铅中毒通常呈慢性，铅中毒的临床指标主要是尿铅超过0.08mg/l，血铅超过50μg/t，职业史和临床症状是诊断的依据。职业性铅中毒临床上有神经、消化、血液等系统的综合症状。1、神经系统　　主要表现为神经衰弱、多发性神经病和脑病。神经衰弱，是铅中毒早期和较常见的症状之一，表现为头昏、头痛、全

SOP 是英文 Standard Operation Program的缩写，即“标准化操作程序”。现在，智能激光粒度仪中都配有 SOP 功能来实现粒度测试过程自动化、标准化，实现“一键操作”。SOP 不仅能降低了操作人员劳动强度，更重要的是规范了测试条件，减少了人为因素导致的结果偏差，提高了测试结果的一致性。使用SOP 功能前要进行标准化操作流程设定，包括设定循环清洗次数、超声波分散时间、样品的

由于小角度探测器距离探测器中心仅有100微米左右，这样因机械振动、热胀冷缩、桌面不平等因素导致的光路系统偏移或扭曲，很容易使主光束偏离探测器中心点而照射到小角度探测器上，致使这些探测器因饱和而失效，无法探测到大颗粒产生的散射光信号从而导致错误的结果。自动对中系统在激光粒度仪中的作用是随时保证探测器的中心点与富氏透镜的焦点重合状态，从而使探测器有效接收所有角度上的散射光，保证测量结果的准确可靠，保

一般的，粒度分布测量是通过系统识别和接收光信号来实现的。 而光信号的强弱又是由悬浮液中的颗粒个数决定的。以激光法为例，悬浮液中颗粒浓度越高，散射光信号越强，但随之而来的复散射的现象同时加剧，影响测量结果；反之悬浮液中的颗粒浓度越低，虽然复散射现象得到缓解，但信噪比下降，代表性也不够，同样影响测量结果。其它粒度分布测量方法的情况也类似，所以在粒度分布测量过程中合适的颗粒浓度很重要。

使用激光粒度仪进行粒度测试，是目前应用最广泛的一种粒度测试方法。早期的激光粒度仪用弗朗和费理论，这种理论不需要样品折射率，但对小于5微米的样品误差较大。为了使激光粒度仪测量细样品的精度更高,当今大部分粒度仪都采用Mie散射理论，这是一种精确描述颗粒对激光散射规律的理论，但Mie散射理论进行计算时需要用到样品的折射率和吸收率，如果折射率选择的不对就会影响粒度结果的准确性。下面介绍几个简单获取样品折射

氦氖激光器是发明时间最早、技术最成熟、应用最为广泛的激光器之一。由于气体原子具有确定的能级结构，在外界电子激发下将发生能级跃迁，产生受激辐射发出激光，因此氦氖激光器产生的激光是波长纯净的单色光，波长误差只有几纳米，并具有极大的相干长度，并且不受温度波动影响，加上谐振腔的作用，保障了激光输出具有良好的准直性（发散角只有几个毫弧度）。在需要良好单色光、相干性和准直性的场合，特别是精密测量领域，氦氖

半导体激光器又称激光二极管（LaserDiode，LD），是二十世纪八十年代半导体物理发展的最新成果之一。半导体激光器的优点是体积小、重量轻、可靠性好、使用寿命长、功耗低。此外，半导体激光器采用低电压恒流供电方式，电源故障率低、使用安全，维修成本低。目前，半导体激光器的使用数量居所有激光器之首，某些重要的应用领域，过去常用的其他激光器，已逐渐被半导体激光器所取代。此外，半导体激光器品种繁多，既有

米氏散射理论是通过麦克斯韦电磁理论严格推导出的、用来描述表面光滑的球体对光的散射规律的解析解。它考虑了散射体（颗粒）的光学特性（折射率和吸收系数）以及介质的光学特性。由于米氏理论考虑了样品的折射率、吸收率、反射率，考虑了介质的折射率等因素，因此它对具有不同光学特性的样品都能精确得到解析解，由此得到的粒度测试结果更准确，并且适用于从超细的亚微米级颗粒到较粗的毫米级颗粒，是现代激光粒度仪普遍采用的理

从使用角度来讲，可以通过观察背景状态来快速判断激光粒度仪是否正常。如果背景值大于4或直方图形状凸凹不平说明对中不良，背景值小于 0.3 说明激光器亮度下降；背景直方图长度超过 20 个通道，说明样品池脏换或结雾，需要清洗或处理；在背景坐标的右边有背景信号，需要检查样品池和介质是否干净。不同品牌的激光粒度仪，背景的图形形式可能有所不同，但无论如何，背景都是在激光穿过充满纯净介质的样品池后各个角度探测

激光粒度仪良好的背景状态必须同时具备以下五点：数值较低（1-3）、长度短（占20 个通道以内）、形状斜（从左逐渐递减）、位置左（位于坐标最左侧）和稳定。影响激光粒度仪的背景状态的因素有以下原因：一是对中不良，二是样品池粘附颗粒或结雾，三是介质不干净，四是激光器老化。此外像样品池中没有介质、环境空气中灰尘太多、富氏透镜脏等也可能造成背景状态异常。如果出现背景异常，首先要检查样品池和透镜是否干净，然后