粉体行业在线展览
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产品介绍:
Morphologi G3针对从0.5微米至几毫米的颗粒粒度及粒形测量提供先进便捷的测量工具。 该仪器可灵活地运用于科研及故障诊断应用,为自动化质量控制分析提供无用户干预的分析结果与确认。 该技术通常与激光衍射技术共同使用,以便更深入地了解产品或工艺状态。
Morphologi G3采用静态图像分析技术测量颗粒粒度及粒形。 全自动化与集成式干法样品制备的特点使其成为昂贵耗时的人工显微测量方法的理想替代品。
特点:
自动化SOP控制的无人值守式运行与可重复的结果使生产率直线上升。
质量**的显微图像保证准确表征
一体化的干粉分散系统配有精确的分散控制功能,自动准备好样品,对硬脆材料和坚固材料能进行可重复、可再现测量
作为共享的实验室资源,先进的人工显微控制模式可提供更多的价值
在膜滤器上快速实现自动化颗粒计数
直观强大的软件界面可使您更容易地对数据进行直观判定与统计分析。
主要参数:
技术:静态自动成像
颗粒粒度:0.5 μm–1000μm* (在某些应用中,测量上限可达到10mm*)
测量的颗粒特性:粒度、粒形、透明度、数量、位置
粒度参数:等效直径、长度、宽度、周长、面积、**距离、等效体积、纤维总长、纤维宽度
粒形参数:长宽比、圆度、凸度、延伸度、高灵敏圆度、纤维延伸度、纤维伸直度
颗粒透明度参数:灰度平均值、灰度标准偏差
分散机理:样品在分散过程中会导致颗粒的剪切和颗粒碰撞。
分散压力范围: 0.5–5bar
分散压力精度:0.1bar增量
进样时间范围:5-100msec
样品处理时间:1-600sec
注,
*:以样品及样品培养基为准。
BT-9300S
Winner2000B
online
S3500系列
Spraytec
ANALYSETTE 22 MicroTec plus
DP-02型
MET ONE FMS
HELOS-RODOS
NKT5200-H
LA-300 、LA-920
JZ-7