粉体行业在线展览
HM-S100半自动检测系统
面议
立仪
HM-S100半自动检测系统
500
1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质,重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样,*快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
LHTG/LHTM/LHTW
Empyrean
V-Sorb4800-金埃谱
EMIA-820V
Hydrolink
Autoflex R837
3H-2000A
SQL810C/1010C
电磁波固体流量计
UNI800B
略