粉体行业在线展览
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
面议
新嘉光
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
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Photon RT UV-VIS-MWIR分光光度计用于185-5200nm波长范围内带涂层平面光学元件的无人值守测试,可自动在不同角度对光学元件进行各种偏振态的透过率和**反射率测试,不需要额外添加附件。
• 世界上个专为光学涂料器设计的分光光度计
• 世界上**具有测量UV-MWIR(220-5200 nm)偏振能力的设备,深入了解光学表面的真实性能
• 专为光学测试设计和优化(不考虑生化应用),标准配置可涵盖大部分测试需求,无需额外附件。
• 极端入射角的测量,可实现0-75度(可扩展到85)透射测量和8-75度(可扩展到85)**反射率测量。
• 全自动化测量,改变入射角后无需重新校准基线,测量基板上同一区域的透射率和**镜面反射率——非常适合薄膜设计的反向分析,减少人为因素的影响。
• 涵盖市场上广测试波段,宽可涵盖185nm-5200nm。
• **反射率测量,可高达99.99%。
• 厚样品透过率测试,可自动计算光线偏移量,自动控制传感器进行补偿,进行准确测量,无需其他附件。光束偏移,高达 +/- 60, 0 mm。
• 可直接进行棱镜测试,只需更换样品台。
• 改进的单色仪具有高度准直的光束,具有低杂散光,高信噪比的特点。
• 与市场上产品相比,测量速度提高数倍。
• 改变光斑尺寸,实现极端小口径样品测试。
SHSCam HR4-130-GE-DUV
OTS
LZH
StrainScope Flex
ISARA400
First Contact
LINZA 2752
PHOTON RT 7512
PHOTON RT UV-VIS-MWIR
EPTS
10 mm-200 mm
10 mm
T6
在线可见光/紫外分光光度计
GC 5500L
MA-T6
F-380型
AAS8000
UV1902 系列双光束紫外可见分光光度计
全光谱显微分光光度计
UH4150
Eppendorf BioPhotometer® D30
ICAP-7200
PerkinElmer LAMBDA 465