粉体行业在线展览

产品

产品>

粉体测试设备>

颗粒图像测试仪

>多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa

多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa

nanoSAQLa

直接联系

大塚电子(苏州)有限公司

江苏

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

大塚电子

型号:

nanoSAQLa

关注度:

4457

范围(量程或细度):

--

产品介绍

特点

只需一台,轻松实现5检体连续测量
低浓度到高浓度都可对应
高速测量,标准时间1分钟
搭载了简单的测量功能 (1键测量)
内置非浸泡型的cell block,无分注夹杂物
搭载温度梯度功能

测量范围(理论值)

粒径 0.6nm~10μm
浓度范围 0.00001~40%
温度范围 0~90℃*

仕样


型号多检体NANO粒径测量系统
测量原理动态光散射法
光源高出力半导体激光*1
检出器高感光度APD
连续测量5检体
测量范围0.6nm ~ 10μm
对应浓度0.00001 ~ 40% *2
温度0 ~ 90℃ (有温度梯度功能) *3
規格遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸W240 X D480 X H375 mm
重量约18 kg
软件平均粒径解析 (累积法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布叠写
逆相关函数・残差plot
粒径monitor
粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm)
分子量计算功能


*1 根据激光安全基准 (JIS C6802)级别区分,本仪器的安全级别为1级。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
  一次性cell或连续测量时, 15 ~ 40℃ (不对应温度梯度)


测量范例

01.png


a02.jpg


03.png





产品咨询

多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa

nanoSAQLa

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa - 4457
大塚电子(苏州)有限公司 的其他产品

FLOW

颗粒图像测试仪
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号