粉体行业在线展览
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
面议
昂坤视觉
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
163
检测缺陷类别Defect types
l 缺陷尺寸:0.5um or above
l 常规检测:电极异常、外延层脱落、切割道异常、发光区异常、残金、双晶、外延异常
l 深度学习系统与神经网络算法,可以对缺陷类别进行精准分类
l 支持用户定义或协商定制缺陷类别,但增加缺陷类别可能会影响产能
F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备
图形化晶圆缺陷检测设备
E3200 GaN缺陷检测设备
E1000 化合物半导体缺陷检测设备
E3500 SiC 缺陷检测设备
F300-PSS PSS 缺陷检测设备
F300-EPI GaAs
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
F300-DPW
SPI300 晶圆形貌测量与分选设备
MOCVD在线监测系统 viperRTC-LSD
MOCVD在线监测系统 viperRTC–LSS